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当前，导体硅片检测、光伏电池分选、高分子新材料甄别、农产品水分检测等高端制造与分选场景，对大面积、高均匀性短波红外（SWIR）照明需求持续攀升。
SWIR红外面光源作为机器视觉检测的关键硬件，可依托材料在短波红外波段差异化吸收、透射特性，完成亚表面缺陷筛查、材质区分、内部杂质识别、水分含量判读等可见光检测难以实现的检测任务，是InGaAs、硅基短波红外成像设备发挥效能的核心前提。长期以来，国内大面积高性能SWIR面光源多依赖海外产品，进口产品存在定制周期漫长、改款成本高，标准型号难以匹配国内非标产线空间、光斑、散热等实际工况，制约短波红外检测方案规模化落地，成为产业链上游的突出痛点。
针对行业供给短板，本土红外视觉光源企业虹烁科技完成SWIR红外面光源系列产品量产，产品覆盖800‑1750nm宽光谱区间，完整覆盖工业主流短波红外工作波长，包含808nm、850nm、905nm、940nm、1050nm、1150nm、1200nm、1300nm、1350nm、1450nm、1550nm、1650nm、1720nm，同时支持客户特殊波长与多波长复合组合定制，例如可见光叠加SWIR、双短波红外波段复合输出，适配多光谱同步检测需求。
在核心性能指标上，该系列红外面光源发光均匀性可选85%、93%两档，光功率覆盖10mW/cm²至300mW/cm²宽区间，兼顾低功率长时间成像与高功率高速在线检测不同工况需求。硬件形态维度，发光尺寸可灵活定制，标准化型号覆盖50×50mm至350×350mm多款规格；光源结构支持背光、开孔面光、平行面光源多种出光形式；散热方案可按需配置被动散热、风冷、水冷、气冷模式，解决大面阵短波红外LED长时间工作的温升难题，保障设备在工业产线7×24小时连续稳定运行，适配硅基、InGaAs主流工业相机成像系统。
相较于进口同类产品，虹烁科技SWIR红外面光源强化本土化非标全流程服务能力，可围绕产线设备安装空间约束、光斑形态要求、散热条件、防护等级、波长组合方案开展定制开发，提供从前期方案对接、试样打样到批量交付、现场技术支持一体化服务，有效化解海外光源定制周期长、改造成本高昂，标准产品与国内产线适配度不足的现实难题，降低国内设备厂商短波红外检测项目的硬件选型与调试门槛。
目前该系列产品已经面向硅晶圆穿透检测、光伏组件内部缺陷筛查、塑料高分子材料分选、食品农产品水分与隐性损伤检测、特种薄膜瑕疵识别等领域开展配套应用，帮助工业设备厂商快速搭建短波红外视觉检测方案。
业内分析指出，国内机器视觉国产化竞争已经从整机设备逐步向上游光源、光学元器件延伸，短波红外属于高端检测赛道关键细分领域。兼具800‑1750nm宽光谱覆盖、高面均匀度、大功率可调、深度非标定制能力的国产SWIR红外面光源，将进一步补齐我国工业视觉短波红外照明产业链配套缺口，赋能半导体、新能源、新材料等高端制造质检环节迭代升级，助力新质生产力在精密检测领域落地。